機(jī)器的小故障有時(shí)會(huì)導(dǎo)致zui終產(chǎn)品受到污染。金屬顆粒可以從機(jī)器的運(yùn)動(dòng)部件中分離出來(lái),因?yàn)樗鼤?huì)在產(chǎn)品上產(chǎn)生摩擦和沉積,有時(shí)會(huì)降低產(chǎn)品質(zhì)量。這篇博客描述了的一項(xiàng)技術(shù),不僅可以檢查污染的存在,而且還可以識(shí)別它的起源。
搜尋和消除:產(chǎn)品污染
無(wú)論是生產(chǎn)食品、電子設(shè)備還是冶金部件,精密機(jī)械的引進(jìn)使生產(chǎn)過(guò)程變得工業(yè)化和自動(dòng)化。這些機(jī)器有的壽命較短,有時(shí)在一定的操作時(shí)間后就會(huì)產(chǎn)生缺陷,因?yàn)樗鼈兪怯山到獠牧现瞥傻?,因此?huì)產(chǎn)生小顆粒。
這些微粒zui終會(huì)沉積在產(chǎn)品上,污染食物,可能會(huì)產(chǎn)生有毒金屬。它們可能損壞探測(cè)器或印刷電路板(PCB),甚至成為氧化過(guò)程的起源,這將損害機(jī)械部件的使用效率。
因此,關(guān)鍵不只是檢測(cè)這些粒子,還要追蹤它們的來(lái)源,這樣生產(chǎn)線上的操作人員就可以消除這個(gè)問(wèn)題。根據(jù)污染顆粒的性質(zhì)和大小,有幾種調(diào)查方法可供選擇。一些技術(shù)被證明是更有效的,因?yàn)樗麄兂浞掷昧瞬牧系幕瘜W(xué)和物理性質(zhì)進(jìn)行分析。
電子顯微鏡檢測(cè)粒子
對(duì)小型工業(yè)來(lái)說(shuō),電子顯微鏡的出現(xiàn),揭示了一種全新的檢測(cè)污染的方法,一種比以往使用的方法更有效和準(zhǔn)確的方法。。掃描電鏡目前在使用便捷性,分析速度方面有巨大的改善,臺(tái)式掃描電鏡以更低的使用成本獲得了小型企業(yè)用戶的青睞。
通過(guò)使用掃描電鏡(SEM)的背散射電子探測(cè)器(BSD),可以產(chǎn)生樣品和粒子的高倍放大圖, 不同的對(duì)比度突顯出不同的成分。
圖1:香蕉中金屬顆粒污染的掃描電鏡(SEM)圖像(亮區(qū))和帶塵埃的PCB表面(暗區(qū))。不同的成分立即可見(jiàn),具體的分析可以從可疑的區(qū)域開(kāi)始。
因此,只要簡(jiǎn)單地掃描樣品表面,就可以檢測(cè)到數(shù)十納米的所有粒子。
這個(gè)過(guò)程有助于識(shí)別污染的存在,但這并不是掃描電鏡(SEM)能夠提供的*信息!
SEM和EDS:化學(xué)成分分析儀器
電子顯微鏡實(shí)際上可以配備能量色散X射線譜儀(EDS)。這意味著在幾秒鐘內(nèi),同樣的設(shè)備可以提供和分析樣品的準(zhǔn)確化學(xué)成分。
這種分析的結(jié)果可以進(jìn)一步用來(lái)確定污染物的來(lái)源(例如,在生產(chǎn)線中使用的一種非常特殊的鋼或塑料),并有選擇地修復(fù)導(dǎo)致污染的機(jī)器部件。在幾分鐘內(nèi),產(chǎn)品的質(zhì)量可以提高到正常的標(biāo)準(zhǔn),并優(yōu)化生產(chǎn)線。
關(guān)于EDS的更多信息
如果想在掃描電子顯微鏡中更深入地研究EDS,可以看看以下產(chǎn)品介紹——飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)Phenom ProX。
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