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 Phenom Pharos G2：可以放在桌子上的場發(fā)射掃描電鏡 

先進的技術(shù)不斷推動科學(xué)進步，推動我們對基本原理和基礎(chǔ)科學(xué)理解的邊界。

但是科學(xué)進步也會受到觀察能力的限制，顯微技術(shù)的發(fā)展和改進是當今社會技術(shù)和知識增長的基石。不斷創(chuàng)新、不斷突破顯微技術(shù)的邊界是飛納電鏡的責任與使命。

全新設(shè)計的電子光路、場發(fā)射燈絲，革命性的震動免疫與磁場隔離、穩(wěn)定的真空系統(tǒng)，將臺式掃描電鏡的分辨率突破到 1.8 nm 以內(nèi)，同時不受安裝樓層、震動、磁場的限制。全自動的 15 秒抽真空系統(tǒng)，使得用戶可以在 1 分鐘內(nèi)獲取材料的形貌和成分信息。

高分辨

15 秒抽真空

1 分鐘場發(fā)射 SEM 成像

1 秒能譜 Mapping

低加速電壓

不噴金直接觀測高真空二次電子像

豐富的拓展功能

人人都可操作

可放置任意樓層

高速度和高分辨的理想搭配

材料研究的老師說：我理解的利器應(yīng)該是具有*的分辨率，那臺式的場發(fā)射也可以稱得上科研利器嗎？

第二代飛納臺式場發(fā)射掃描電鏡 Phenom Pharos G2 重新定義了臺式電鏡的設(shè)備性能和操作速度，能譜和掃描電鏡圖像軟件高度集成，界面友好，不同經(jīng)驗級別的用戶都可以在 1 分鐘內(nèi)獲得高分辨率的 SEM 圖像，1s 便可獲得能譜 Mapping 結(jié)果。飛納的臺式場發(fā)射分辨率優(yōu)于 1.8nm，實測結(jié)果可達1.2nm，輕松觀測納米級別材料。

金顆粒 - 分辨率實測 1.2 nm

1 分鐘出場發(fā)射 SEM 圖

1s 獲得能譜 Mapping 結(jié)果

“軟"樣品成像*

電池隔離膜材料研發(fā)人員說：我非常擔心較高的加速電壓會對我的樣品造成損壞，但是通常較低的加速電壓下又無法獲得好的照片，我很困擾。

第二代飛納臺式場發(fā)射電鏡，電子束能量范圍大，在低加速電壓下仍然體現(xiàn)出較高的性能，無需繁瑣的樣品制備，即可直接對絕緣材料和電子束敏感材料進行成像，也不會損壞樣品或者掩蓋樣品納米級的特征。比如用于水凈化的沸石，藥片，膠囊粉末以及以尼龍、聚酯、氨綸和芳綸為原料的聚合物纖維等，這些樣品如果使用高能量的電子束進行成像，將會受到明顯損傷，因此需要使用低能量電子束進行成像。Phenom Pharos G2 臺式場發(fā)射掃描電鏡低至 1kV，仍具有*的成像功能。

絕緣樣品 - 5kV - SE 充電嚴重

絕緣樣品 - 1kV - SE 充電消失

電子束敏感樣品 - 20kV - 樣品損傷嚴重

電子束敏感樣品 - 1kV - 樣品不受損傷

植物組織切片

成神經(jīng)細胞瘤組織切片 92,000x

豐富的拓展功能

做粉末冶金的客戶說：我認為理想的掃描電鏡，不僅只做形貌的觀察和成分的分析，還能快速準確地幫助我們做大量顆粒的統(tǒng)計分析，這樣才能為我們解決實際問題，提升我們的工作效率。

第二代臺式場發(fā)射具有 5 大豐富的拓展功能，其中之一的顆粒統(tǒng)計分析系統(tǒng)，便可以自動測量統(tǒng)計顆粒的大小、形狀及數(shù)量。

拓展功能 1：顆粒統(tǒng)計分析系統(tǒng)

· 自動并統(tǒng)計分析顆粒的大小、形狀、數(shù)量等

· 探測速度快：高達 1000 個 / 分鐘

· 可測量顆粒尺寸范圍：0.1μm-100μm

· 輸出詳細數(shù)據(jù)：圓度、縱橫比、凹凸度等

· 可選配 Nebula 干粉分散器

拓展功能 2：3D 粗糙度重建系統(tǒng)

· 基于“陰影顯形"技術(shù)，進行實時三維重建

· 無需樣品傾斜

· 自動進行粗糙度測量（平均粗糙度 Ra 和粗糙高 Rz 等）

· 可輸出 3D 曲線，2D / 3D 圖像，CSV 等信息

拓展功能 3：自動全景圖像拼合

· 無需干預(yù)，全自動采集圖片

· 高分辨和高精度縫合算法：電鏡下圖像連接無波動

· 全域超景深形式展現(xiàn)完整樣品圖像

· 超大視野：最大可達 100mm

拓展功能 4：纖維統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)

· 全自動批量化處理，消除人為誤差

· 可觀測納米纖維，獲取豐富的數(shù)據(jù)結(jié)果

· 可輸出纖維直徑分布、纖維方向、濾膜孔徑等數(shù)據(jù)

· 統(tǒng)計方法可追溯，精確到每一根纖維

拓展功能 5：孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)

· 全自動測量并統(tǒng)計分析孔徑大小、形狀、數(shù)量等

· 孔徑詳細數(shù)據(jù)：長寬比、圓當量直徑、長短軸等

· 輸出孔徑分布、孔隙率等詳細數(shù)據(jù)結(jié)果

· 統(tǒng)計方法可追溯，精確到每一個孔徑

臺式設(shè)計：占地小，靈活性高，操作簡單

一位課題組的老師說：我們課題組近幾年發(fā)展迅速，人員不斷壯大，需要做掃描電鏡表征的人數(shù)越來越多，我們計劃再買一臺供學(xué)生使用，但是我們實驗室的空間有限，并且在 10 樓，沒有辦法騰出專門的房間來放置。

傳統(tǒng)的透射掃描電鏡體積龐大，需要一間專門放置設(shè)備的房間。且對放置的環(huán)境有嚴格的要求，需要專門的防磁、防震裝置，通常建議放置在 1 樓。

Phenom Pharos G2 實現(xiàn)了將場發(fā)射掃描電鏡體積縮小了 80 %，直接放置到一張桌子上。內(nèi)置磁屏蔽和減震系統(tǒng)，對放置環(huán)境無嚴格需求，可以根據(jù)用戶需求，放置在產(chǎn)線旁，辦公桌，研究室等。

放置于 7 樓的 Phenom Pharos G2

飛納電鏡用戶同濟大學(xué)吳一楠老師體驗 Phenom Pharos G2

Phenom Pharos G2：應(yīng)用案例

Phenom Pharos G2 廣泛應(yīng)用于鋰電行業(yè)、半導(dǎo)體行業(yè)、制藥行業(yè)、生命科學(xué)以及各種金屬材料等。

鋰電池隔膜材料

半導(dǎo)體芯片外觀檢測

包衣藥丸

電機-金屬材料

珊瑚內(nèi)表面

Phenom Pharos G2：客戶評價

復(fù)旦大學(xué) 楊振國教授（失效分析專家）：“不需要噴金處理，就可以清晰成像，很大程度地提高了失效分析研究的效率，操作比較簡單，課題組的學(xué)生們都能快速掌握使用方法，對我們來說幫助很大。"

同濟大學(xué) 吳一楠副教授（環(huán)境科學(xué)與工程學(xué)院）：“最新一代的臺式場發(fā)射，讓我非常驚艷。沒想到科技發(fā)展和進步地如此之快，可以使得傳統(tǒng)的落地場發(fā)射都可以做到桌面上，并且又比傳統(tǒng)落地電鏡操作要方便很多，對安裝和放置環(huán)境也沒有什么特殊要求，真的非常推薦！"

Colin Humphreys（英國劍橋大學(xué)教授）：“材料科學(xué)非常重要，最終將會改變?nèi)祟惖纳?。掃描電鏡對材料科學(xué)的研究具有重要的意義。傳統(tǒng)電鏡需要非常有經(jīng)驗的專業(yè)人士操作，通常需要長時間的培訓(xùn)，拍一張圖片也要耗時也很長。而飛納電鏡只需要培訓(xùn) 15 分鐘即可以上手操作，可以很方便的幾分鐘之內(nèi)給出樣品的形貌信息和成分信息，給材料科學(xué)的研究帶來了非常大的方便。"

Phenom Pharos G2：部分用戶