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飛納臺(tái)式掃描電鏡廣泛應(yīng)用于許多學(xué)科領(lǐng)域

 更新時(shí)間:2020-06-16 點(diǎn)擊量:1635
  飛納臺(tái)式掃描電鏡與傳統(tǒng)大型掃描電子顯微鏡相比具有體積小巧、操作簡(jiǎn)便、價(jià)格便宜、快速抽真空等優(yōu)勢(shì),分辨力能滿足多數(shù)材料的顯微觀察,*光學(xué)顯微鏡與傳統(tǒng)大型掃描電子顯微鏡之間的分辨率空白區(qū)域,可廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米顆粒、生物醫(yī)學(xué)、食品藥品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域。
  臺(tái)式掃描電鏡是一種電子顯微鏡,該儀器具有超高分辨率,可以執(zhí)行二次電子圖像,反射電子圖像觀察以及各種固體樣品表面形貌的圖像處理。飛納臺(tái)式掃描電鏡利用二次電子成像原理,通過在平板或未涂層的基礎(chǔ)上以納米級(jí)觀察生物樣品來獲得真實(shí)的原始立體樣品,廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。
  臺(tái)式掃描電鏡在材料科學(xué)、金屬材料、陶瓷材料半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域,進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量,晶體/晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測(cè)量。
  掃描電鏡具有高分辨率,景深大,立體感強(qiáng),放大倍數(shù)可調(diào)等優(yōu)點(diǎn),因此廣泛用于半導(dǎo)體,無(wú)機(jī)非金屬材料和器件的檢測(cè)。除了時(shí)間和費(fèi)用外,它還對(duì)電子顯微鏡的操作者產(chǎn)生了束縛,是研究微觀世界的重要工具之一。它為人們提供了研究納米尺度物質(zhì)結(jié)構(gòu)的有力手段,已廣泛應(yīng)用于許多學(xué)科領(lǐng)域,例如材料科學(xué)和質(zhì)量過程控制。

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